一、儀器介紹

X-Strata920鍍層測厚儀是一款極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 
· 涂鍍層厚度測量和/或成分分析，元素范圍 Ti - U 
· 可同時進行多達15層元素成分分析 

二、應用

· 多鍍層金屬厚度測量 
· 合金鑒定及化學分析 
· 電鍍液分析 
· 金成色分析 

三、樣品室：

·開槽式樣品室，
·Z軸自動控制，移動行程43mm
·XY軸手動控制，
·工作臺面分為，固定樣品臺、加深樣品臺、自定義樣品臺

·加深樣品臺：
·樣品高度160mm
·儀器外形尺寸（寬深高）407*770*400mm
·樣品倉內部尺寸（寬深高）279*508*152mm
·樣品倉均有4個卡槽位置，卡槽垂直間距25.4mm,方便測量不同高度的樣品

四、特點

· 標準50瓦微焦X射線管
· 計數率增加，精度提高 
· 多準直器 
· 計數率和光斑尺寸之間的*平衡 
· 鐳射聚焦 
· 改善系統再現性（消除人為干擾） 
· 標準FP軟件包 
· 綜合應用模式 
· 簡單校準 
· 開槽式設計樣品臺，自動尋找適合所設定焦距的Z軸坐標 
· 提供中文等7種語言界面

五、技術指標

X射線激發：50 瓦微聚焦鎢靶X 射線管
探測器：氙氣填充的正比計數器
數字脈沖處理：4096 多道數據分析功能：自動信號處理，包括死時間修正
計算機：戴爾工作臺式計算機，19寸液晶屏幕，彩色噴墨打印機
電源：85～130 或 215～265 伏，頻率范圍：47Hz-63Hz
工作環境：50℉(10℃)-104℉(40℃)，相對濕度達98%，非凝固狀態