HEIDON新東科學(xué)HHS2000S/HHS3000S摩擦磨損試驗(yàn)系統(tǒng)是材料科學(xué)領(lǐng)域的革命性產(chǎn)品，專為評估材料摩擦磨損性能而設(shè)計。該系統(tǒng)通過三維磨損形態(tài)分析技術(shù)，顯著提升了測試效率與數(shù)據(jù)深度，解決了傳統(tǒng)方法中樣品準(zhǔn)備繁瑣、測試周期冗長及數(shù)據(jù)解析復(fù)雜的問題。其核心優(yōu)勢在于單次測試即可生成全面的三維磨損形態(tài)圖表，直觀展示磨損變遷的臨界點(diǎn)，特別適合研發(fā)階段快速迭代的材料配方優(yōu)化工作。廣泛應(yīng)用于金屬、塑料、涂層、液晶薄膜等材料的性能評估，在汽車制造、航空航天、電子材料等制造業(yè)中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

二、工作原理與技術(shù)特點(diǎn)

1. 工作原理

HHS2000S/HHS3000S系統(tǒng)采用高精度伺服電機(jī)驅(qū)動樣品與摩擦頭產(chǎn)生相對運(yùn)動，結(jié)合載荷傳感器與位移傳感器實(shí)時采集摩擦力、磨損量及摩擦系數(shù)等多維數(shù)據(jù)。通過可選配的光學(xué)顯微鏡或非接觸式位移計，研究人員能夠?qū)δp表面形貌進(jìn)行精細(xì)觀察與量化分析，深入理解材料的磨損機(jī)制。系統(tǒng)在單次測試中同步關(guān)聯(lián)四個關(guān)鍵參數(shù)：磨損次數(shù)、垂直負(fù)載、摩擦力和磨損體積，通過數(shù)據(jù)融合生成直觀的三維磨損形態(tài)圖。

2. 技術(shù)特點(diǎn)

• 寬范圍負(fù)載控制：系統(tǒng)提供100g-10000g的垂直負(fù)載范圍，配備高負(fù)載單元（19.61N），滿足從精密薄膜到重型工業(yè)材料的不同測試需求。

• 高精度驅(qū)動系統(tǒng)：采用交流伺服電機(jī)和齒輪齒條傳動，實(shí)現(xiàn)0.1-50mm/sec的移動速度控制。移動距離在固定負(fù)載模式下為1-50mm，負(fù)載變動/連續(xù)加載模式下為10-50mm。

• 智能負(fù)載管理系統(tǒng)：加載方式采用傳統(tǒng)的天平臂結(jié)構(gòu)，確保高可靠性和穩(wěn)定性。系統(tǒng)支持固定負(fù)載與連續(xù)加載兩種測試模式，可通過觸摸面板輕松切換。

• 綜合安全防護(hù)：配備過負(fù)載安全裝置和高頻雜音防止電路（CMRR:AC/DC130dB以上，NMRR:AC50dB以上），確保長時間測試的穩(wěn)定性和安全性。

三、產(chǎn)品系列與應(yīng)用場景

1. HHS2000S系列

HHS2000S負(fù)載可變式摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)使用單張紙片進(jìn)行一次測量，即可生成顯示磨損次數(shù)、垂直負(fù)載、摩擦力、磨損體積關(guān)系的三維磨損形態(tài)圖表。其加載方式采用傳統(tǒng)的摩擦試驗(yàn)機(jī)天平臂結(jié)構(gòu)，確保了高可靠性，垂直負(fù)載范圍從1g到10000g，滿足不同靈敏度需求。該系列特別適合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下的基礎(chǔ)磨損試驗(yàn)與目視評價，是入門級的高選擇。

2. HHS3000S系列

HHS3000S代表材料磨損測試領(lǐng)域的重大飛躍，通過革命性的三維磨損形態(tài)分析技術(shù)，將材料測試效率與深度提升至全新高度。系統(tǒng)在摩擦力測量基礎(chǔ)上，整合了位移測量與圖像記錄功能，通過精密位移儀實(shí)時監(jiān)測摩擦量、磨損痕跡和劃痕深度。通過選配的“Tribo CCD系統(tǒng)”，研究人員還能進(jìn)一步開展更高級別的測試分析，如磨損粉末行為分析和潤滑劑移動狀態(tài)觀察，為材料行為研究提供更深入的洞察力。該系列廣泛應(yīng)用于研發(fā)階段需要快速迭代的材料配方優(yōu)化工作，在汽車制造、航空航天、電子材料等制造業(yè)中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

四、市場與用戶反饋

HEIDON新東科學(xué)作為日本精密儀器代表，以摩擦學(xué)設(shè)備與高性能攪拌器為核心競爭力，技術(shù)覆蓋材料測試全流程。HHS2000S/HHS3000S系列產(chǎn)品憑借其創(chuàng)新性與實(shí)用性，尤其在高難度工業(yè)場景中表現(xiàn)突出，適合科研、化工、制造等領(lǐng)域*用戶需求。用戶反饋顯示，該系統(tǒng)操作簡便，數(shù)據(jù)度高，顯著提升了材料研發(fā)與質(zhì)量控制的效率

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