雷達(dá)物位計是通過發(fā)射電磁波并接收反射波來測量物位。
1MEL-KP20雷達(dá)物位計
1、雷達(dá)物位計的測量原理
能量很低的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)出，經(jīng)被測介質(zhì)表面反射后，再被天線接收，經(jīng)歷的時間通過電子部件處理得出介質(zhì)與之間的距離，送DCS控制系統(tǒng)進(jìn)行顯示、報警。微波從被發(fā)射－反射－接受的時間與到介質(zhì)表面的距離成正比，關(guān)系為：D=CT/2。公式中：微波的傳輸速度C為常數(shù)，測出雷達(dá)物位計記錄微波經(jīng)歷的時間T，可得出液面到雷達(dá)天線的距離D。空罐槽的高度E減去雷達(dá)天線測距離D就可以得出實際液位的高度。如圖1所示：L=E-D。公式中：L表示槽罐實際液位；E表示槽罐自身高度；D表示雷達(dá)測量距離。
1MEL-KP20雷達(dá)物位計


2、雷達(dá)物位計的特點
①測量高度可以靈活更改，適宜多種不同高度槽罐測量
例如WWDLD80系列測量范圍在100m-70m內(nèi)可以任意設(shè)置。測量范圍與雷達(dá)物位計的選型即天線有關(guān)。
②應(yīng)用場合比較廣，可連續(xù)準(zhǔn)確地測量
高頻雷達(dá)物位計作為非接觸式液位測量儀器，采用一體化設(shè)計，主要有金屬外殼、電子部件、天線系統(tǒng)組成，使用中不存在機械磨損。天線等關(guān)鍵部件采用高質(zhì)量的材料，抗腐蝕能力強。雷達(dá)物位計采用的是發(fā)射、接收電磁波，在氧化鋁生產(chǎn)應(yīng)用中，WWDLD80系列高頻雷達(dá)物位計發(fā)射出的微波脈沖無論各種被測介質(zhì)都能夠反射，并且雷達(dá)物位計有棒式、多種喇叭式、纜式能夠應(yīng)用在更復(fù)雜的工礦條件，不受高溫、泡沫、粉塵、蒸汽等的影響。故雷達(dá)物位計在惡劣條件下功效顯著，無論是有毒介質(zhì)，還是腐蝕性介質(zhì)，也無論是液體還是漿狀、固體介質(zhì)，它都可以連續(xù)準(zhǔn)確地測量。
③安裝、維護(hù)方便，操作簡單
雷達(dá)物位計質(zhì)量輕，通過螺紋或法蘭連接安裝在槽罐的上面，可采用二線制的24VDC供電，功耗低、用電安全，一名維護(hù)人員就可操作、維護(hù)，并且能通過表頭顯示報警故障。根據(jù)模塊提示的錯誤代碼，維護(hù)人員能及時分析故障，予以排除，或者為降低成本也可以尋找?guī)讉€壞的雷達(dá)物位計，將里面的電子部件重新拼湊組裝。參數(shù)設(shè)定方便，如WWDLD80系列雷達(dá)物位計可通過顯示模塊調(diào)試設(shè)定，也可用的手操器或裝有WARE軟件和文件的計算機進(jìn)行設(shè)定。
1MEL-KP20雷達(dá)物位計


1MEL-KP20雷達(dá)物位計是一款高性能的工業(yè)測量設(shè)備，專為液體和固體物位測量設(shè)計。該設(shè)備采用*的雷達(dá)技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)非接觸式測量，有效避免了對被測介質(zhì)的干擾和污染。
首先，1MEL-KP20雷達(dá)物位計具有高精度的測量能力，其測量精度可達(dá)±1mm，能夠滿足各種工業(yè)領(lǐng)域的嚴(yán)格要求。其次，該設(shè)備具備強大的抗干擾能力，即使在復(fù)雜的電磁環(huán)境下也能穩(wěn)定工作，確保測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
此外，1MEL-KP20雷達(dá)物位計的安裝和使用非常簡便。其設(shè)計緊湊，安裝方式靈活，可適用于各種罐體、管道等容器。同時，該設(shè)備具備人性化的操作界面，用戶可以通過簡單的設(shè)置即可完成參數(shù)調(diào)整和故障排除。
在安全性方面，1MEL-KP20雷達(dá)物位計采用了多重保護(hù)措施，如過壓保護(hù)、過溫保護(hù)等，確保設(shè)備在端環(huán)境下也能安全穩(wěn)定運行。此外，該設(shè)備還具有遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，用戶可以通過網(wǎng)絡(luò)實時查看測量數(shù)據(jù)，便于遠(yuǎn)程管理和維護(hù)。
之，1MEL-KP20雷達(dá)物位計憑借其高精度、抗干擾能力強、安裝簡便、安全可靠等特點，成為工業(yè)物位測量的理想選擇。無論是在石油化工、食品飲料、醫(yī)藥等行業(yè)，還是在倉儲物流等領(lǐng)域，都能發(fā)揮出其*的性能。
1MEL-KP20雷達(dá)物位計