C-Swift+是一款高速多功能入門級EBSD探測器，專為常規(guī)材料分析和高速樣品表征而設(shè)計(jì)。
C-Swift+繼承了Symmetry的許多優(yōu)點(diǎn)，包括為EBSD專門定制CMOS傳感器。這些優(yōu)點(diǎn)使得C-Swift+也成為一種開創(chuàng)性的EBSD探測器。

• 確保2000點(diǎn)/秒的速度

• 在250點(diǎn)/秒速度下，采集622 x 512像素的EBSD花樣

• 光纖光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，對低能量和低束流分析具有非常高的靈敏度

• 無失真圖像

C-Swift+是一個*、高速EBSD探測器。和Symmetry S3 探測器一樣，C-Swift+使用定制的CMOS傳感器來實(shí)現(xiàn)高速和高靈敏度，以確保即使在更具挑戰(zhàn)性的材料上也能獲得高質(zhì)量的結(jié)果。

C-Swift+*速度為2000 pps，同時可獲得高質(zhì)量的花樣分辨率(156 x 128 像素）。這相當(dāng)于基于CCD的探測器以相似速度運(yùn)行時所采集花樣像素?cái)?shù)的4倍，確保所有類型樣品的可靠和高命中率。無失真光學(xué)系統(tǒng)與AZtec軟件中強(qiáng)大的算法結(jié)合，使C-Swift+能夠提供優(yōu)于0.05°的高角度精度。對于需要更高質(zhì)量花樣的應(yīng)用，C-Swift+可以以高達(dá)250 pps的速度采集622 x 512像素的花樣，使其成為復(fù)雜的多相樣品和精細(xì)的相分析的理想選擇。

這是專為快速、有效的樣品表征而設(shè)計(jì)的探測器。系統(tǒng)的每個組件，從接近傳感器到可選的集成前置探測器，都經(jīng)過設(shè)計(jì), 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成為每個實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)工具。