C-Nano+是一款*的入門級EBSD探測器。利用Symmetry探測器的創(chuàng)新技術(shù), 為C-Nano+測器提供了*的性能。C-Nano+適用于表征各種類型的樣品，高像素分辨率使其非常適合于精細(xì)的應(yīng)變分析，以及復(fù)雜并具有挑戰(zhàn)性材料的常規(guī)分析。

• 1244 x 1024像素的全分辨率花樣，適合高分辨率EBSD應(yīng)用

• 600 pps*的采集速度

• 光纖光學(xué)系統(tǒng)，帶來對低能量和低束流分析的高靈敏度

• 無失真圖像

C-Nano+是一款適用于各種材料和應(yīng)用的EBSD探測器。利用專門定制的CMOS傳感器，C-Nano+采集速度可達(dá)600 pps，同時花樣分辨率達(dá)到312 x 256像素：這比同類型的基于CCD的探測器采集速度快5-6倍，得到至少4倍像素的花樣。C-Nano+值得讓您信任的性能，使其即使在更具挑戰(zhàn)性的材料上，也能提供*數(shù)據(jù)質(zhì)量。

C-Nano+的光纖光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，確保了極高的靈敏度和亞像素失真水平，使其成為需要優(yōu)良、高清花樣的精細(xì)的應(yīng)變分析的理想探測器。C-Nano+的靈敏度確保在使用非常低的束流（在3 nA以下）時，也能達(dá)到*的分析速度。全分辨率模式能提供*達(dá)900 pps/nA的靈敏度，從而能夠*地對電子束敏感材料和納米晶材料進(jìn)行詳細(xì)地分析。

C-Nano+還得益于牛津儀器CMOS探測器系列獨(dú)有的新設(shè)計功能，包括可避免潛在、代價昂貴的碰撞發(fā)生的接近傳感器。C-Nano+是一個您可以一直信賴使用的探測器。