儀器簡介： JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。 JEM-2100F*設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。 SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實現一體化控制。